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測(cè)量光學(xué)顯微鏡主要由目鏡、物鏡、載物臺(tái)和反光鏡組成。目鏡和物鏡都是凸透鏡,焦距不同。物鏡相當(dāng)于投影儀的鏡頭,物體通過物鏡成倒立、放大的實(shí)像。目鏡相當(dāng)于普通的放大鏡,該實(shí)像又通過目鏡成正立、放大的虛像。反光鏡用來反射,照亮被觀察的物體。反光鏡一般有兩個(gè)反射面:一個(gè)是平面,在光線較強(qiáng)時(shí)使用;一個(gè)是凹面,在光線較弱時(shí)使用。
PZ-L3230微分干涉相襯金相顯微鏡適用于對(duì)多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠(yuǎn)長(zhǎng)距平場(chǎng)消色 差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置,具有圖像立體感且清晰、造型美觀,操作方便等特點(diǎn),是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。
PZ-20DIC型倒置微分干涉相襯金相顯微鏡采用無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),可提供光學(xué)性能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。模塊化的功能設(shè)計(jì),可以方便升級(jí)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)偏振觀察、暗視場(chǎng)觀察、明視場(chǎng)微分干涉觀察等功能。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì),使操作更方便舒適,空間更廣闊。可用于半導(dǎo)體硅晶片、LCD基板、固體粉未及其它工業(yè)試樣的顯微觀察,是材料學(xué)、精密電子工程學(xué)等領(lǐng)域研究的理想儀
PZ-100DI微分干涉相襯工業(yè)檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念,可以方便升級(jí)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)偏光觀察, DIC觀察等功能,導(dǎo)柱升降裝置,可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離,適用于不同厚度工件檢測(cè)。機(jī)械移動(dòng)式載物平臺(tái)有效定位工件觀察部位。產(chǎn)品適用于精密零件,集成電路,包裝材料等產(chǎn)品檢測(cè)。
XJL-20/20BD金相分析顯微鏡采用無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化的功能設(shè)計(jì)理念,可以方便升級(jí)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)偏光觀察、暗場(chǎng)觀察等功能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì),使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察,是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。
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